光寶的質(zhì)量控制
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用心制造
- 即時(shí)生產(chǎn)
- 物料控制嚴(yán)格
- 標(biāo)準(zhǔn)化生產(chǎn)流程
- 卓越的生產(chǎn)能力
一致性高
- 嚴(yán)格的工藝流程
- 實(shí)時(shí)過程控制
- 可重復(fù)性高
準(zhǔn)時(shí)交貨
- 優(yōu)秀的供應(yīng)鏈
- 高效的發(fā)貨
質(zhì)量證書
- ISO9001:2015認(rèn)證
- ISO10110
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光寶光電的質(zhì)量檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室為我們發(fā)出的每一款產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量把關(guān)。
光寶光電的目標(biāo)是確保制造的每一個(gè)產(chǎn)品都能通過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)。例如外觀，尺寸公差，表面質(zhì)量，平行度，光譜特性等相關(guān)步驟。我們認(rèn)為質(zhì)量控制是激光元器件在制造過程中最重要的步驟。光寶光電致力于您可以獲得質(zhì)量與性能卓越的光學(xué)產(chǎn)品，能使您的試驗(yàn)與生產(chǎn)成功完成。
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晶體毛坯目視初檢
在暗房中，使用綠光激光器點(diǎn)光源或者線光源透射晶體內(nèi)部，逐層掃過，通過肉眼觀測(cè)晶體坯料的缺陷情況。主要用于檢測(cè)晶體坯料內(nèi)部的包裹點(diǎn)，云層，微氣泡等宏觀缺陷。
應(yīng)力儀
應(yīng)力儀可用于對(duì)晶體毛坯內(nèi)部的應(yīng)力、晶界、均勻性進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)晶體的毛坯切片，細(xì)磨或者拋光，在應(yīng)力儀下觀察材料的內(nèi)部應(yīng)力分布情況，觀察是否存在晶界，多晶，孿晶。觀察衍射光圈，通過光圈的變形情況來檢測(cè)晶體內(nèi)部結(jié)晶情況及摻雜均勻性情況。
X射線定向儀
使用X射線定向儀，可以對(duì)晶體的加工面進(jìn)行精準(zhǔn)的定向測(cè)試，用于判定晶體的加工方向的準(zhǔn)確性，檢測(cè)材料中是否存在多晶，孿晶，非晶區(qū)域。
- 檢定精度為：0.1 arcsec.
- 誤差范圍：±1 arcsec.
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表面質(zhì)量
- 高清200倍CCD成像儀
可以很直觀的分辨2.5um麻點(diǎn)，并且判斷麻點(diǎn)間距和麻點(diǎn)數(shù)量，是表面質(zhì)量檢測(cè)首選設(shè)備
- 光學(xué)顯微鏡
40倍、80倍光學(xué)顯微鏡，晶體擦拭及鍍膜前檢測(cè)的首選儀器，目測(cè)觀察表面質(zhì)量及潔凈度，方便快捷。
光譜測(cè)試
- Uv-Vis-NIR分光光度計(jì)（Agilent Cary 7000）
測(cè)試范圍：200-2500nm
測(cè)試精度：0.001%
誤差：±0.01% 工件尺寸：>10*10
- 傅里葉紅外光譜儀(PE Spectrum Two)
測(cè)試范圍：2000-25000nm
測(cè)試精度：0.01%
誤差：±0.05% 工件尺寸：>12*12
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1064nm激光損傷閾值測(cè)試
- 峰值功率：10GW
- 聚焦光斑：0.5mm
- 重復(fù)頻率：10Hz
- 脈沖寬度：10ns
- 測(cè)試溫度：20℃
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1535nm激光損傷閾值測(cè)試
- 峰值功率：3.5GW
- 聚焦光斑：50μm
- 重復(fù)頻率：10Hz
- 脈沖寬度：4ns
- 測(cè)試溫度：20℃
平面干涉儀
- Zygo 干涉儀-φ100mm
測(cè)試范圍：dia2-dia100mm
測(cè)試精度：λ/30
- 激光平面干涉儀
測(cè)試范圍：dia2-dia80mm
測(cè)試精度：λ/10
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膜層牢固度檢測(cè)
- 3M-600#膠帶拉力測(cè)試
測(cè)試范圍：通用型
操作簡(jiǎn)單快捷，測(cè)試首選
- UMT-摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
測(cè)試范圍：1 mN-1000 N
可量化薄膜牢固度，實(shí)驗(yàn)室型設(shè)備